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日本理學連續波長色散X射線熒光光譜儀

簡要描述：日本理學連續波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400專為處理非常大或重的樣品而設計，非常適合分析濺射靶材、磁盤，或用于多層薄膜計量或大型樣品的元素分析。

產品型號：ZSX Primus 400

廠商性質：代理商

更新時間：2024-04-09

訪問量：1524

產品分類

Product Category

X射線熒光光譜儀

日本理學波長色散X射線熒光光譜儀能量色散型X射線熒光光譜儀便攜式x熒光光譜儀手持式X熒光光譜儀儀器

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詳細介紹

品牌	Rigaku/理學	行業專用類型	地質巖礦
價格區間	面議	儀器種類	臺式/落地式
應用領域	化工,石油,地礦,鋼鐵/金屬,汽車及零部件

日本理學連續波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400產品描述：

Rigaku ZSX Primus 400 連續波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設計。該系統可接受直徑最大為 400 毫米、厚度為 50 毫米和質量為 30 千克的樣品，非常適合分析濺射靶材、磁盤，或用于多層薄膜計量或大型樣品的元素分析。

連續波長色散X射線熒光光譜儀

優點：

帶有定制樣品適配器系統的 XRF,適應特定樣品分析需求的多功能性，可使用可選適配器插件適應各種樣品尺寸和形狀。憑借可變測量點（直徑 30 毫米至 0.5 毫米，具有 5 步自動選擇）和具有多點測量的映射功能以檢查樣品均勻性。

具有可用相機和特殊照明的 XRF,可選的實時攝像頭允許在軟件中查看分析區域。

仍保留了傳統儀器的所有分析能力。

安全性：

采用上照射設計,樣品室可簡單移出，再不用擔心污染光路，清理麻煩和增加清理時間等問題。

應用領域：

固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析。

濺射靶材組成。

隔離膜：SiO2、BPSG、PSG、AsSG、Si?N?、SiOF、SiON等。

高 k 和鐵電介質薄膜：PZT、BST、SBT、Ta2O5、HfSiOx。

金屬薄膜：Al-Cu-Si、W、TiW、Co、TiN、TaN、Ta-Al、Ir、Pt、Ru、Au、Ni等。

電極膜：摻雜多晶硅（摻雜劑：B、N、O、P、As）、非晶硅、WSix、Pt等。

其他摻雜薄膜（As、P）、困惰性氣體（Ne、Ar、Kr等）、C（DLC）。

鐵電薄膜、FRAM、MRAM、GMR、TMR；PCM、GST、GeTe。

焊料凸點成分：SnAg、SnAgCuNi。

MEMS：ZnO、AlN、PZT的厚度和成分。

SAW器件工藝：AlN、ZnO、ZnS、SiO 2（壓電薄膜）的厚度和成分；Al、AlCu、AlSc、AlTi（電極膜）。

日本理學連續波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400技術參數：

大樣本分析：最大 400 毫米（直徑），最大 50 毫米（厚度），高達 30 千克（質量）

樣品適配器系統，適用于各種樣本量

測量點：30 毫米至 0.5 毫米直徑，5步自動選擇

映射能力，允許多點測量

樣品視圖相機（可選）

分析范圍：Be - U

元素范圍：ppm 至 %

厚度范圍：sub ? 至 mm

衍射干擾抑制（可選）：單晶襯底的準確結果

符合行業標準：SEMI、CE標志

占地面積小，以前型號的 50% 占地面積

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