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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > X射線熒光光譜儀 > 日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀 > ZSX Primus III+X射線熒光光譜儀
簡(jiǎn)要描述：X射線熒光光譜儀具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù)，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問(wèn)題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間。
產(chǎn)品型號(hào)：ZSX Primus III+廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-03-27訪 問(wèn) 量：1592產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 行業(yè)專用類型 | 電子產(chǎn)品 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 手持式/便攜式 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣 |
Rigaku ZSX Primus III +以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測(cè)定從氧氣（O）到鈾（U）的主要和次要原子元素。
ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù)，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問(wèn)題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間。
樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對(duì)于要求高精度的應(yīng)用很重要，例如合金分析。ZSX Primus III +采用的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析，旨在限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差，如熔融珠和壓制顆粒
EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，它可以提供最準(zhǔn)確，最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應(yīng)，包括線重疊。SQX還可以校正光電子（光和超輕元素），不同氣氛，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
元素從O到U的分析
管道上方的光學(xué)器件使污染問(wèn)題最小化
占地面積小，使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限
高精度樣品定位
特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制軟件工具（SPC）
吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率
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